Розглянуті теоретичні аспекти високорозрішувальної електронної мікроскопії та експериментальні дані щодо структури речовини, переважно кристалів, на атомному рівні, отримані за допомогою ЕМВР. Теоретичні оцінки розрішення, контрасту та характеру розсіювання електронів переважно добре узгоджуються з експериментом. Точність ЕМ щодо геометрії розташування атомів та інтенсивності піків, що представляють атоми, відносно невисока. Хоча ЕМ значно поступається дифракційним методам щодо отримання даних про структуру ідеальних, тривимірно періодичних кристалів та окремих молекул, вона незамінна для вивчення реальної структури кристалів з різноманітними варіаціями та порушеннями ідеальної будови. Особливо цінною є можливість спостереження динаміки атомної структури - міграції атомів та дефектів у реальному часовому масштабі з використанням телевізійних моніторів. Обмеженнями електронної мікроскопії є особливі вимоги до зразків та їх підготовки, труднощі вивчення речовин, що складаються з легких атомів. Електронний мікроскоп -  складний прилад, але буде продовжуватися подальше удосконалення його конструкції, зокрема з метою отримання ще більшого розрішення.